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semicon japan2020

Transpector MPS/MPH

Transpector MPS/MPH

RGA(残留ガス分析計)

技術分野で世界をリードするインフィコンが、お客様の真空アプリケーションニーズに最適な残留ガス分析計を提供します。業界最高クラスのデータ収集速度、最小検知分圧(MDPP)、S/N比を実現しています。

Transpector XPR3+

Transpector XPR3+

PVD、スパッタリング プロセス特化型RGA

半導体製造における質量ガス分析計のデファクトスタンダードモデルです。

Transpector CPMNew

Transpector CPM

コンパクトIn-Situプロセスモニター

エッチングやCVDなどのアプリケーションで使用される高腐食性ガスに対応し接ガス部の耐食性アップや、検出器はクローズドイオンソース(CIS)を使用。sub-ppmレベルで汚染物質の検出が可能です。EUVプロセスで懸念されるハイドロカーボンにも対応した最新モデルです。

SEMI QCMNew

SEMI QCM

水晶振動子マイクロバランスシステムによる
半導体プロセスの監視

チャンバ近傍にて水晶振動子によるマイクロバランスにより正確なプロセスモニターを行います。
プリカーサの供給モニター、HDP CVDプロセスの監視で実績のある最新テクノロジーです。

FabGuard

FabGuard

半導体製造装置FDCソフトウェア

FDC(Fault Detection and Classification)機能とユーザーに使いやすい解析ツール、各種デジタル及びアナログのセンサーを統合し、半導体装置の状態やプロセスを効率よく分析することができます。ウェハーサイズ・製造プロセスを問わず、非常に多くの種類の半導体装置に接続することが可能で、SEMIスタンダードはもちろん、適用していない装置でも非常に多くの経験を持っていますので、お困りの場合是非ご相談下さい。

半導体製造装置メンテナンスワークフロー指示管理システム FabRecover

FDC(Fault Detection and Classification)システムの異常発生時の手順、定期メンテナンス時の手順、故障発生時の原因特定手順、復旧手順など、装置保全のワークフローの指示、および保全記録の管理を支援します。リークチェックや真空引き作業など、標準化できる作業を再利用できフローチャートで作業の流れを指示することができます。また、作業の記録やメンテ実測値の記録を記録することができ、故障発生時に過去の経緯から、原因の特定の時間を短縮します。

動画資料リンク 機能概要 DEMO動画(英語) 技術資料(PDF)
FabGuard FDC 設備異常検知
FabRecover メンテナンスワークフロー管理

FPS

FPS

生産管理最適化ツール『FPS』

出来高優先、コスト優先、納期優先など、目まぐるしく変化する生産要件を容易に設定し、搬送を含めた生産スケジューリングを業界最短のスピードで実行が可能です。また車載品質ゼロディフェクト対応、需要変化への追従など、最新機能が追加されています。

動画資料リンク 機能 DEMO動画(英語) 技術資料(PDF)
Smart Factory Digital Twin スマートファクトリー概要
Factory DashBoard 工場ダッシュボード
Factory Scheduler 生産スケジューラー
Next Move 生産・搬送実行
Next Move (Video Tracking System) ビデオによるロットID読み取り
Metrology Sampling Optimizer 抜き取り検査最適化
Capacity Analysis 多品種生産の能力計算
BEOL Scheduling 半導体後工程のスケジューリング
SmartFDC スマートFDC

真空計

真空計

キャパシタンスダイアフラム真空計、ワイドレンジ真空計、コントローラ、表示器等

INFICON セラミックキャパシタンスダイアフラムゲージ(CDG)は、真空産業で求められる最高精度(0.15%)のアプリケーション向けに設計されています。耐腐食性を備えた超高純度アルミナセンサーが、優れた性能、最高の長期安定性、高精度をお約束いたします。
またINFICONのワイドレンジ真空計は優れた精度と信頼をコンパクトなデザインでお届けします。超高真空から大気圧まで、全範囲の真空をカバーします。

RF/DCセンサー

RF/DCセンサー

RF/DCセンサー『SION』

Sion RFディテクターは、プラズマ・マイクロ・アーキング測定、またプラズマクリーン・エンドポイント測定を極めて高い感度と高速測定スピード(250kHz)で検出することができるリアルタイム・プロセスモニターです。装置のマイクロアークの問題をお持ちの方は、是非一度ご相談ください。

オプティカルガス分析計

オプティカルガス分析計

オプティカルガス分析計『Quantus LP100』

プラズマを利用したQuantus LP100ガス分析計は、重要なプロセス環境でのリークの検知やプロセス及びクリーン エンドポイントをリアルタイムで検出します。

UL3000 Fab

UL3000 Fab

高速測定実現可能
ヘリウムリークディテクタ『UL3000 Fab』

UL3000可動式ヘリウムリークディテクタは、試験の柔軟性、高感度、素早く正確な結果、クイックスタート、可動性、システムの信頼性といった半導体の厳しい要求事項を満たすよう特別に設計されています。また、インフィコン独自の様々な機能を搭載しており、その一例として、最大接続圧力100KPaのため、ポカミスレベルの大きなリークの検知も素早く行うことが出来ます。